雙脈沖是分析功率開關(guān)器件動(dòng)態(tài)特性的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法，貫穿器件的研發(fā)，應(yīng)用和驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的設(shè)計(jì)。今天Aigtek安泰電子就帶你揭秘。

為什么要進(jìn)行雙脈沖測(cè)試？在以前甚至是今天，許多使用IGBT或者MOSFET做逆變器的工程師是不做雙脈沖實(shí)驗(yàn)的，而是直接在標(biāo)定的工況下跑看能否達(dá)到設(shè)計(jì)的功率。這樣的測(cè)試確實(shí)很必要，但是往往這樣看不出具體的開關(guān)損耗，電壓或者電流的尖峰情況，以及寄生導(dǎo)通情況。這會(huì)導(dǎo)致對(duì)有些風(fēng)險(xiǎn)的認(rèn)識(shí)出現(xiàn)盲點(diǎn)，進(jìn)而影響最后產(chǎn)品未來的長期可靠性。又或者設(shè)計(jì)裕量過大帶來成本增加，使得產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力下降。如果能在設(shè)計(jì)研發(fā)階段，精準(zhǔn)地了解器件的開關(guān)性能，將對(duì)整個(gè)產(chǎn)品的優(yōu)化帶來極大的好處。比如能在不同的電壓、電流和溫度下獲得開關(guān)損耗，給系統(tǒng)仿真提供可靠的數(shù)據(jù)；又比如可以通過觀察波形振蕩情況來選擇合適的門極電阻。

雙脈沖測(cè)試原理。顧名思義，雙脈沖測(cè)試就是給被測(cè)器件兩個(gè)脈沖作為驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，如圖所示。第一個(gè)脈沖相對(duì)較寬，以獲得一定的電流。同時(shí)第一個(gè)脈沖的下降沿作為關(guān)斷過程的觀測(cè)時(shí)刻，而第二個(gè)脈沖的上升沿則作為開通過程的觀測(cè)時(shí)刻。

 

 

雙脈沖測(cè)試非常適合研發(fā)階段對(duì)器件在系統(tǒng)上的損耗評(píng)估，為系統(tǒng)仿真帶來數(shù)據(jù)支持。畢竟有太多的因素會(huì)使實(shí)際值和數(shù)據(jù)規(guī)格產(chǎn)生很大差別，用規(guī)格書上的值做為仿真依據(jù)粗糙了些，當(dāng)然器件選型的時(shí)候還是很值得借鑒的。

本文有關(guān)雙脈沖測(cè)試知識(shí)科普由西安安泰電子發(fā)布，Aigtek是國內(nèi)專業(yè)從事測(cè)量?jī)x器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)，一直專注于功率放大器、功率信號(hào)源、功率放大模塊、計(jì)量校準(zhǔn)源等測(cè)試儀器產(chǎn)品的研發(fā)與制造。如想了解更多有關(guān)相關(guān)科普，請(qǐng)持續(xù)關(guān)注安泰電子官網(wǎng)m.sillink.com.cn或撥打029-88865020。

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